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迈克尔逊干涉条纹位移信息提取研究
李忠明; 唐延甫; 李俊霖; 杨永强; 李洪雨
2021-03-08
发表期刊电子测量技术
卷号44期号:05页码:51-54
摘要基于迈克尔逊干涉原理,利用干涉成像原理和图像处理技术,提出了利用干涉条纹半径变化情况来获取干涉条纹位移信息的方法。该方法以面阵CCD相机采集的图像为处理对象,采用去噪、顶帽变换、二值化、形态学处理等预处理操作,再利用连通域特征识别得到图像中心亮干涉条纹的半径。通过半径的变化趋势与幅度,实现位移信息提取。实验表明,所提方法突破了干涉条纹计数时位移检测最高分辨率为λ/2的限制,利用了每帧干涉图像所提供的变化信息,实现位移检测分辨率λ/4。
文献类型期刊论文
条目标识符http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/66092
专题中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
作者单位1.中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
2.中国科学院大学
推荐引用方式
GB/T 7714
李忠明,唐延甫,李俊霖,等. 迈克尔逊干涉条纹位移信息提取研究[J]. 电子测量技术,2021,44(05):51-54.
APA 李忠明,唐延甫,李俊霖,杨永强,&李洪雨.(2021).迈克尔逊干涉条纹位移信息提取研究.电子测量技术,44(05),51-54.
MLA 李忠明,et al."迈克尔逊干涉条纹位移信息提取研究".电子测量技术 44.05(2021):51-54.
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