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基于暗电流CMOS图像传感器固定模式噪声校正研究
李强; 金龙旭; 李国宁
2021-02-10
发表期刊液晶与显示
卷号36期号:02页码:327-333
摘要为了抑制由读出放大电路增益不一致导致的CMOS传感器固定模式噪声(FPN),提高成像质量,本文提出了基于暗电流的固定模式噪声校正方法。该方法相比于传统校正方法具有校正系统简单,算法易于实现的优点。本文对校正前后的图像通过灰度方差进行评估,评估结果表明:由暗电流形成的本底图像,图像灰度方差校正后相比于校正前,降低1~2个数量级;均匀光照条件下的CMOS图像,校正后相比于校正前,图像灰度方差增大2个数量级。该评估结果及相关结论对暗电流本底图像及相关校正方法探讨具有一定的借鉴意义。
文献类型期刊论文
条目标识符http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/66021
专题中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
作者单位中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
第一作者单位中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
李强,金龙旭,李国宁. 基于暗电流CMOS图像传感器固定模式噪声校正研究[J]. 液晶与显示,2021,36(02):327-333.
APA 李强,金龙旭,&李国宁.(2021).基于暗电流CMOS图像传感器固定模式噪声校正研究.液晶与显示,36(02),327-333.
MLA 李强,et al."基于暗电流CMOS图像传感器固定模式噪声校正研究".液晶与显示 36.02(2021):327-333.
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