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Echelle gratings tiling method based on lateral shearing interferometry
Y. F. Li; X. T. Mi; X. D. Qi; S. W. Zhang; G. J. Yang; H. Z. Yu; X. T. Li and W. H. Li
2022
发表期刊Optics and Laser Technology
ISSN0030-3992
卷号145期号:7
摘要A method for echelle gratings tiling based on lateral shearing interferometry is proposed. Fringe patterns of the grating assembly are generated by a wedge plate. Mosaic errors can be calculated and corrected by observing the working order and its adjacent order. An experimental mosaic of two 50 mm x 50 mm, 79 grooves/mm echelles is aligned to verify the theory. The rms wavefront is better than 0.04 wavelength. Angular and translation sensitivities of less than 1 arcsec and 10 nm are achieved respectively.
DOI10.1016/j.optlastec.2021.107475
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文献类型期刊论文
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专题中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
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Y. F. Li,X. T. Mi,X. D. Qi,et al. Echelle gratings tiling method based on lateral shearing interferometry[J]. Optics and Laser Technology,2022,145(7).
APA Y. F. Li.,X. T. Mi.,X. D. Qi.,S. W. Zhang.,G. J. Yang.,...&X. T. Li and W. H. Li.(2022).Echelle gratings tiling method based on lateral shearing interferometry.Optics and Laser Technology,145(7).
MLA Y. F. Li,et al."Echelle gratings tiling method based on lateral shearing interferometry".Optics and Laser Technology 145.7(2022).
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