Changchun Institute of Optics,Fine Mechanics and Physics,CAS
| 中子数字成像FPGA抗辐照技术研究 | |
| 黄继鹏; 田睿; 王延杰; 王连明; 孟艳丽 | |
| 2017 | |
| 发表期刊 | 强激光与粒子束
 |
| 页码 | 58-63 |
| 摘要 | 中子数字成像试验中,现场可编程门阵列(FPGA)是重要的成像逻辑控制器件。然而,中子辐照易引起FPGA的单粒子效应,对中子成像引入本底噪声,因此必须采取措施,减少中子辐照对FPGA成像的影响。结合图像周期性的特点,采用三判二的技术方法替代三模冗余,裁决成像关键信号;采用硬件实现的中值滤波算法,平滑由于RAM区单粒子翻转等原因呈现在图像上的噪点。仿真结果表明,本文采用的两种技术方法不但降低资金成本,提高FPGA资源冗余度,而且在取得良好的抗辐照滤波效果的同时,保留图像细节。时序仿真和硬件平台验证了设计的正确性。 |
| 关键词 | 中子成像 Fpga 三判二 中值滤波 无损检测 |
| DOI | 82A9739EAC6D278DC10FEBD6032DBA2A |
| 语种 | 中文 |
| 引用统计 | |
| 文献类型 | 期刊论文 |
| 条目标识符 | http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/58792 |
| 专题 | 中科院长春光机所知识产出 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 黄继鹏,田睿,王延杰,等. 中子数字成像FPGA抗辐照技术研究[J]. 强激光与粒子束,2017:58-63. |
| APA | 黄继鹏,田睿,王延杰,王连明,&孟艳丽.(2017).中子数字成像FPGA抗辐照技术研究.强激光与粒子束,58-63. |
| MLA | 黄继鹏,et al."中子数字成像FPGA抗辐照技术研究".强激光与粒子束 (2017):58-63. |
| 条目包含的文件 | ||||||
| 文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
| 中子数字成像FPGA抗辐照技术研究.ca（499KB） | 期刊论文 | 作者接受稿 | 开放获取 | CC BY-NC-SA | 浏览 请求全文 | |
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