Changchun Institute of Optics,Fine Mechanics and Physics,CAS
| 激光脉冲串对电荷耦合器件积累损伤效应研究 | |
邵俊峰 ; 郭劲; 王挺峰; 郑长彬
| |
| 2017-10-25 | |
| 发表期刊 | 红外与激光工程
 |
| 页码 | 13-18 |
| 摘要 | 为了研究激光脉冲串对光电系统的损伤和致盲机理,开展了重频纳秒激光对黑白行间转移相机电荷耦合器件的损伤实验研究。实验结果表明:存在两种积累损伤效应机理,多个脉冲到达CCD靶面同一位置的损伤或致盲具有积累效应,多个脉冲积累损伤能够显著降低线损伤和全靶面损伤阈值,降低程度与脉冲个数、激光到靶能量密度有关。致盲机理与单脉冲致盲机理相同,均表现为器件垂直转移电路间及地间的短路;而激光脉冲串到达CCD靶面的不同位置也能够实现器件的功能性失效,其机制与单脉冲损伤显著不同,仅表现为线损伤的叠加,并未造成器件电路紊乱,功能性损伤阈值即对应线损伤阈值660 mJ/cm~2,而小于单次致盲阈值1 500~2 200 mJ/cm~2。 |
| 关键词 | 脉冲激光 损伤机理 电荷耦合器件 功能性失效 |
| DOI | 58FDB79E4952B9079E95BA4505A2C3A9 |
| 语种 | 中文 |
| 引用统计 | |
| 文献类型 | 期刊论文 |
| 条目标识符 | http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/58724 |
| 专题 | 中科院长春光机所知识产出 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 邵俊峰,郭劲,王挺峰,等. 激光脉冲串对电荷耦合器件积累损伤效应研究[J]. 红外与激光工程,2017:13-18. |
| APA | 邵俊峰,郭劲,王挺峰,&郑长彬.(2017).激光脉冲串对电荷耦合器件积累损伤效应研究.红外与激光工程,13-18. |
| MLA | 邵俊峰,et al."激光脉冲串对电荷耦合器件积累损伤效应研究".红外与激光工程 (2017):13-18. |
| 条目包含的文件 | 下载所有文件 | |||||
| 文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
| 激光脉冲串对电荷耦合器件积累损伤效应研究（248KB） | 期刊论文 | 作者接受稿 | 开放获取 | CC BY-NC-SA | 浏览 下载 | |
| 个性服务 |
| 推荐该条目 |
| 保存到收藏夹 |
| 查看访问统计 |
| 导出为Endnote文件 |
| 谷歌学术 |
| 谷歌学术中相似的文章 |
| [邵俊峰]的文章 |
| [郭劲]的文章 |
| [王挺峰]的文章 |
| 百度学术 |
| 百度学术中相似的文章 |
| [邵俊峰]的文章 |
| [郭劲]的文章 |
| [王挺峰]的文章 |
| 必应学术 |
| 必应学术中相似的文章 |
| [邵俊峰]的文章 |
| [郭劲]的文章 |
| [王挺峰]的文章 |
| 相关权益政策 |
| 暂无数据 |
| 收藏/分享 |
除非特别说明，本系统中所有内容都受版权保护，并保留所有权利。
修改评论