| 利用功率谱密度评价离子束抛光光学元件表面粗糙度 |
| 岳巾英; 王泰升 ; 李素文
|
| 2017-05-15
|
| 发表期刊 | 光学技术
|
| 页码 | 208-211 |
| 摘要 | 利用功率谱密度(PSD)评价光学表面粗糙度具有传统评价手段(Ra)所不具备的优势。给出了功率谱密度的计算方法,以及抽样方向与一维PSD曲线的关系。在离子束抛光K9玻璃实验中引入PSD曲线,以评价抛光光学零件的光学表面粗糙度,结合PSD曲线与Ra值能够更全面的指导光学加工。 |
| 关键词 | 功率谱密度(Psd)
表面粗糙度(Ra)
离子束抛光
|
| DOI | 54B635653A85BD34CDEDD4ABEA5267B6
|
| 语种 | 中文
|
| 引用统计 | 正在获取...
|
| 文献类型 | 期刊论文
|
| 条目标识符 | http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/58574
|
| 专题 | 中科院长春光机所知识产出
|
推荐引用方式
GB/T 7714 |
岳巾英,王泰升,李素文. 利用功率谱密度评价离子束抛光光学元件表面粗糙度[J]. 光学技术,2017:208-211.
|
| APA |
岳巾英,王泰升,&李素文.(2017).利用功率谱密度评价离子束抛光光学元件表面粗糙度.光学技术,208-211.
|
| MLA |
岳巾英,et al."利用功率谱密度评价离子束抛光光学元件表面粗糙度".光学技术 (2017):208-211.
|
|
文件名：
|
利用功率谱密度评价离子束抛光光学元件表面粗糙度.caj
|
|
格式：
|
caj
|
此文件暂不支持浏览
除非特别说明，本系统中所有内容都受版权保护，并保留所有权利。
修改评论