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斜入射下液晶空间光调制器纯相位调制特性研究
鲁强; 盛磊; 张鑫; 白继清; 乔彦峰
2016-01-10
发表期刊中国激光
期号1页码:190-196
摘要利用Zygo干涉仪对斜入射下液晶空间光调制器的纯相位调制特性进行了测量。建立了斜入射下液晶空间光调制器的纯相位调制数学模型,研究了斜入射角度对相位调制特性的影响,搭建了基于Zygo干涉仪的测量系统,对不同入射角度下的相位调制特性进行了测量。测量结果表明:不同入射角度下相位调制量近似线性递增,入射角度越大,相位调制量递增的斜率越小;相同灰度值下,随着入射角度的增加,相位调制量逐渐减小;入射角度小于5°时相位调制曲线几乎重合,相同灰度值下相位调制量最大相位差为0.032λ。
关键词光学器件 液晶空间光调制器 纯相位调制 斜入射 相位调制特性
语种中文
文献类型期刊论文
条目标识符http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/57941
专题中科院长春光机所知识产出
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GB/T 7714
鲁强,盛磊,张鑫,等. 斜入射下液晶空间光调制器纯相位调制特性研究[J]. 中国激光,2016(1):190-196.
APA 鲁强,盛磊,张鑫,白继清,&乔彦峰.(2016).斜入射下液晶空间光调制器纯相位调制特性研究.中国激光(1),190-196.
MLA 鲁强,et al."斜入射下液晶空间光调制器纯相位调制特性研究".中国激光 .1(2016):190-196.
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