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基于子孔径斜率离散采样的波前重构
何煦; 袁理
2016-01-15
发表期刊光学精密工程
期号1页码:20-29
摘要由于现有评价与测试方法不能满足3~4m地基光电探测系统在不同仰角下对光学系统波前检测的需求,本文提出了基于子孔径斜率离散采样,再重构全口径波面轮廓的波像差测试方法。采用光学模拟与数学分析协同仿真的方法,研究了波面重构算法的不确定度以及扫描运动引起的子孔径倾斜误差、子孔径扫描位置误差、像点坐标测量误差与波前复原精度间的作用规律。仿真结果显示,迭代算法的相对误差ΔPV为0.002 8λ(λ=632.8nm),模式算法的相对误差ΔPV为0.002 7λ。当子孔径倾斜误差小于0.2″,波面重构误差ΔPV约为0.02λ。当子孔径采样位置精度优于0.2mm,其引入的波面重构误差小于0.04nm(PV);当子孔径像点坐标提取精度优于5μm,波面重构误差ΔPV约为0.03λ。研究结果表明,当考虑波面重构过程中的实际测量误差时,模式算法的误差容限较高,收敛性更好。此外,构建实际测试装置时,需引入角度监测与算法误差补偿机制,子孔径倾斜角度监测系统的测角精度需优于0.2″。
关键词大口径光电望远镜 像质评价 波像差 子孔径斜率
语种中文
文献类型期刊论文
条目标识符http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/57911
专题中科院长春光机所知识产出
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GB/T 7714
何煦,袁理. 基于子孔径斜率离散采样的波前重构[J]. 光学精密工程,2016(1):20-29.
APA 何煦,&袁理.(2016).基于子孔径斜率离散采样的波前重构.光学精密工程(1),20-29.
MLA 何煦,et al."基于子孔径斜率离散采样的波前重构".光学精密工程 .1(2016):20-29.
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