| 光学元件表面缺陷对高斯光束的调制作用研究 |
| 王玮; 巴音贺希格; 潘明忠; 宋莹
|
| 2016-11-13
|
| 摘要 | 缺陷调制是激光应用领域一个常见的问题,本文根据菲涅耳衍射积分公式与角谱理论,推导了高斯光束经缺陷调制的解析表达式与并建立了角谱传输模型,根据所建立的模型模拟了不同情况下缺陷对于高斯光束光强、相位与角谱的影响。分析表明大尺寸、近距离缺陷对于光强的调制程度要大于小尺寸远距离缺陷并且大尺寸缺陷会使光束相位出现明显的起伏,且随着传输距离增加光束中心处的相位变化减小两端的相位变化增大;同时,缺陷使得光束的中高频区角谱增大,低频区角谱减小。 |
| 关键词 | 高斯光束
振幅调制
相位调制
角谱
|
| 语种 | 中文
|
| 文献类型 | 期刊论文
|
| 条目标识符 | http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/57868
|
| 专题 | 中科院长春光机所知识产出
|
推荐引用方式
GB/T 7714 |
王玮,巴音贺希格,潘明忠,等. 光学元件表面缺陷对高斯光束的调制作用研究[J],2016.
|
| APA |
王玮,巴音贺希格,潘明忠,&宋莹.(2016).光学元件表面缺陷对高斯光束的调制作用研究..
|
| MLA |
王玮,et al."光学元件表面缺陷对高斯光束的调制作用研究".(2016).
|
除非特别说明，本系统中所有内容都受版权保护，并保留所有权利。
修改评论