Changchun Institute of Optics,Fine Mechanics and Physics,CAS
| 面阵电荷耦合器件错位成像的建模与仿真 | |
李亚鹏; 何斌 ; 王文华
| |
| 2015-09-25 | |
| 发表期刊 | 红外与激光工程
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| 期号 | 09页码:2767-2773 |
| 摘要 | 为了定量研究面阵电荷耦合器件(CCD)错位成像技术图像质量的提高以及CCD像元填充因子对图像质量的影响,建立了仿真不同像元填充因子的面阵CCD错位成像的数学模型。以Matlab为平台,不考虑噪声的干扰,对ISO12233标准分辨率测试卡子图像进行了仿真,结果表明,CCD像元填充因子为100%时,与普通成像模式相比,对角错位、四点错位成像模式图像的灰度平均梯度分别提高了2.9970、3.4136,拉普拉斯能量分别提高了0.5676、0.7478,且CCD像元填充因子为其他值时,相较于普通成像模式,对角错位、四点错位成像模式图像的GMG和EOL均得到提高;采用四点错位成像模式时,与填充因子为100%的面阵CCD相比,填充因子为69%、44%、25%的面阵CCD四点错位模式图像的灰度平均梯度分别提高了1.433 0、3.337 3、5.153 2,拉普拉斯能量分别提高了0.638 0、1.704 4、3.196 8,且采用其他成像模式时,填充因子为100%、69%、44%、25%的图像的GMG和EOL均不断提高。研究表明,面阵CCD错位成像技术能够提高图像质量,且四点错位成像模式图像质量优于对角错位成像模式;在满足信噪比指标要求的前提下,对于面阵CCD同一成像模式,像元填充因子越小,图像质量越高。 |
| 关键词 | 面阵电荷耦合器件错位成像 仿真模型 填充因子 灰度平均梯度 拉普拉斯能量 |
| 文献类型 | 期刊论文 |
| 条目标识符 | http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/54016 |
| 专题 | 中科院长春光机所知识产出 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 李亚鹏,何斌,王文华. 面阵电荷耦合器件错位成像的建模与仿真[J]. 红外与激光工程,2015(09):2767-2773. |
| APA | 李亚鹏,何斌,&王文华.(2015).面阵电荷耦合器件错位成像的建模与仿真.红外与激光工程(09),2767-2773. |
| MLA | 李亚鹏,et al."面阵电荷耦合器件错位成像的建模与仿真".红外与激光工程 .09(2015):2767-2773. |
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| 文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
| 面阵电荷耦合器件错位成像的建模与仿真.c（410KB） | 期刊论文 | 作者接受稿 | 开放获取 | CC BY-NC-SA | 浏览 下载 | |
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