Changchun Institute of Optics,Fine Mechanics and Physics,CAS
| 电荷耦合器件固定亮点影响研究 | |
杨小虎
| |
| 2015 | |
| 发表期刊 | 电脑知识与技术
 |
| 期号 | 31页码:178-179 |
| 摘要 | 针对电荷耦合器件(Charge Coupled Devices,CCD)工作过程中出现的固定亮点,通过对同一探测器在不同条件下测试以及不同型号探测器之间的比对分析,确认了积分时间、温度以及亮点阈值是固定亮点产生的最主要原因。进一步的研究表明,固定亮点对探测器影响有限,且可以通过数据处理予以消除。 |
| 关键词 | 电荷耦合器件 固定亮点 温度 |
| 文献类型 | 期刊论文 |
| 条目标识符 | http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/53514 |
| 专题 | 中科院长春光机所知识产出 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 杨小虎. 电荷耦合器件固定亮点影响研究[J]. 电脑知识与技术,2015(31):178-179. |
| APA | 杨小虎.(2015).电荷耦合器件固定亮点影响研究.电脑知识与技术(31),178-179. |
| MLA | 杨小虎."电荷耦合器件固定亮点影响研究".电脑知识与技术 .31(2015):178-179. |
| 条目包含的文件 | 下载所有文件 | |||||
| 文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
| 电荷耦合器件固定亮点影响研究.caj（1491KB） | 期刊论文 | 作者接受稿 | 开放获取 | CC BY-NC-SA | 浏览 下载 | |
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