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SRAM型FPGA单粒子翻转模拟系统研究
郑晓云; 王绍举
2014-12-25
发表期刊红外与激光工程
期号S1页码:164-168
摘要SRAM型FPGA在空间辐照环境下,容易受到单粒子效应的影响,导致FPGA存储单元发生位翻转,翻转达到一定程度会导致功能错误。为了评估FPGA对单粒子效应的敏感程度和提高FPGA抗单粒子的可靠性,对实现故障注入的关键技术进行了研究,对现有技术进行分析,设计了单粒子翻转效应敏感位测试系统,利用SRAM型FPGA部分重配置特性,采用修改FPGA配置区数据位来模拟故障的方法,加速了系统的失效过程,实现对单粒子翻转敏感位的检测和统计,并通过实验进行验证,结果表明:设计合理可行,实现方式灵活,成本低,为SRAM型FPGA抗单粒子容错设计提供了有利支持。
关键词单粒子翻转 Sram型fpga 故障注入
语种中文
文献类型期刊论文
条目标识符http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/43567
专题中科院长春光机所知识产出
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GB/T 7714
郑晓云,王绍举. SRAM型FPGA单粒子翻转模拟系统研究[J]. 红外与激光工程,2014(S1):164-168.
APA 郑晓云,&王绍举.(2014).SRAM型FPGA单粒子翻转模拟系统研究.红外与激光工程(S1),164-168.
MLA 郑晓云,et al."SRAM型FPGA单粒子翻转模拟系统研究".红外与激光工程 .S1(2014):164-168.
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