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小孔径采样在大口径系统主镜装调中的应用
安其昌; 张景旭; 张丽敏; 杨飞; 郭鹏
2014-11-20
发表期刊激光与红外
期号11页码:1244-1247
摘要为了满足大口径光学—红外系统主镜的检测装调,引入了小孔径采样方法对于系统主镜的低阶误差进行分析,进而对系统的装调进行指导。随着光学-红外系统的口径加大,由于检测成本等原因,之前在装调时使用的与制造过程中相同的检测方法已经不再适用。本文首先对于小孔径扫描的基本原理做出了介绍,之后提出了实现本文方法的硬件结构,最后通过数值仿真来验证本文方法的正确性与可行性。对于大口径光学-红外系统主镜的装调检测有着较好的指导作用。
关键词大口径系统 低阶像差 小孔径采样 检测装调
语种中文
文献类型期刊论文
条目标识符http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/43508
专题中科院长春光机所知识产出
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GB/T 7714
安其昌,张景旭,张丽敏,等. 小孔径采样在大口径系统主镜装调中的应用[J]. 激光与红外,2014(11):1244-1247.
APA 安其昌,张景旭,张丽敏,杨飞,&郭鹏.(2014).小孔径采样在大口径系统主镜装调中的应用.激光与红外(11),1244-1247.
MLA 安其昌,et al."小孔径采样在大口径系统主镜装调中的应用".激光与红外 .11(2014):1244-1247.
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