Changchun Institute of Optics,Fine Mechanics and Physics,CAS
| 应用于高性能光学薄膜表征的光热光声检测技术 | |
武潇野 ; 张立超; 时光
| |
| 2014-10-15 | |
| 发表期刊 | 中国光学
 |
| 期号 | 5页码:701-711 |
| 摘要 | 本文介绍了光热与光声探测技术的基本原理,结合光学薄膜的吸收测试、光学薄膜的激光辐照特性表征、激光损伤特性表征以及光学薄膜的机械性质表征等各种具体应用,对激光量热法、光热偏转法、表面声波法等典型的光热、光声检测方法进行了分析;阐述了这些方法的测试原理以及各自优势与不足。介绍了该领域利用这些方法取得的一些成果,并就光声光热检测技术的发展趋势做了展望。 |
| 关键词 | 光热方法 光声法 激光量热法 激光辐照 检测技术 |
| 语种 | 中文 |
| 文献类型 | 期刊论文 |
| 条目标识符 | http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/43414 |
| 专题 | 中科院长春光机所知识产出 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 武潇野,张立超,时光. 应用于高性能光学薄膜表征的光热光声检测技术[J]. 中国光学,2014(5):701-711. |
| APA | 武潇野,张立超,&时光.(2014).应用于高性能光学薄膜表征的光热光声检测技术.中国光学(5),701-711. |
| MLA | 武潇野,et al."应用于高性能光学薄膜表征的光热光声检测技术".中国光学 .5(2014):701-711. |
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| 文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
| 应用于高性能光学薄膜表征的光热光声检测技（424KB） | 开放获取 | CC BY-NC-SA | 浏览 下载 | |||
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