| 半导体激光器低频噪声测试及参数提取 |
| 曹军胜 ; 张俊; 郜峰利; 宁永强
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| 2014-08-15
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| 发表期刊 | 应用激光
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| 期号 | 4页码:355-358 |
| 摘要 | 半导体激光器低频电噪声的大小受器件潜在缺陷的影响,与器件可靠性具有相关性。介绍了半导体激光器噪声测试及参数提取的原理,设计了基于超低噪声前置放大器和低频频谱分析仪的低频电噪声测试系统,可测量半导体激光器的低频电噪声并提取相关噪声参数,进而通过低频电噪声的研究对半导体激光器进行可靠性评价,具有灵敏度高、非破坏性等优点。 |
| 关键词 | 半导体激光器
低频电噪声
可靠性
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| 语种 | 中文
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| 文献类型 | 期刊论文
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| 条目标识符 | http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/43370
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| 专题 | 中科院长春光机所知识产出
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推荐引用方式
GB/T 7714 |
曹军胜,张俊,郜峰利,等. 半导体激光器低频噪声测试及参数提取[J]. 应用激光,2014(4):355-358.
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| APA |
曹军胜,张俊,郜峰利,&宁永强.(2014).半导体激光器低频噪声测试及参数提取.应用激光(4),355-358.
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| MLA |
曹军胜,et al."半导体激光器低频噪声测试及参数提取".应用激光 .4(2014):355-358.
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文件名：
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半导体激光器低频噪声测试及参数提取.caj
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格式：
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caj
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