Changchun Institute of Optics,Fine Mechanics and Physics,CAS
| TDICCD相机成像系统片式电阻失效分析 | |
曲利新
| |
| 2014-12-15 | |
| 发表期刊 | 液晶与显示
 |
| 期号 | 6页码:906-910 |
| 摘要 | 为了判断TDICCD相机成像系统在温度循环试验中出现的故障原因,通过故障模式影响及危害性分析,建立了故障树。经排查分析和测试,判断故障部位是地址线表面贴装片式电阻。元器件可靠性中心通过电测和DPA,对该片式电阻进行了失效分析。检查结果表明,该片式电阻是由使用过程中的异常外力造成片式电阻器端电极局部脱落,并排除了该器件存在批次性缺陷的可能。异常外力的来源是电装操作人员在返修过程中焊接时间过长,热应力导致片式电阻器端电极局部脱落。改进措施为严格控制片式电阻焊接时间小于2s。该故障定位准确,机理清楚,经试验验证,措施有效。 |
| 关键词 | 失效分析 电阻失效 故障树 端电极脱离 |
| 语种 | 中文 |
| 文献类型 | 期刊论文 |
| 条目标识符 | http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/43345 |
| 专题 | 中科院长春光机所知识产出 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 曲利新. TDICCD相机成像系统片式电阻失效分析[J]. 液晶与显示,2014(6):906-910. |
| APA | 曲利新.(2014).TDICCD相机成像系统片式电阻失效分析.液晶与显示(6),906-910. |
| MLA | 曲利新."TDICCD相机成像系统片式电阻失效分析".液晶与显示 .6(2014):906-910. |
| 条目包含的文件 | 下载所有文件 | |||||
| 文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
| TDICCD相机成像系统片式电阻失效分析（307KB） | 开放获取 | CC BY-NC-SA | 浏览 下载 | |||
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