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TDI CCD光谱响应曲线测量技术研究
张馥生
2014-05-15
发表期刊电子测量技术
期号5页码:93-95+111
摘要光谱响应曲线是探测器的重要技术参数之一,随着探测技术的发展,精确测量探测器的光谱响应曲线变得越来越重要。为了解决TDI CCD光谱响应曲线检测精度较低、检测方法不够准确等问题,提出了一套科学而准确的高精度TDI CCD光谱响应曲线检测方法。分析了TDI CCD光谱响应曲线的测量原理,采用了直接比较法测定待测TDI CCD的光谱响应曲线,基于具有稳定性高、优异响应能力的LED组,建立了光谱响应曲线的测量装置。计算所有波长的LED对应的TDI CCD光谱响应度,绘制在405~890nm波长范围的光谱响应曲线。实验获取了TDI CCD光谱响应曲线,从曲线中可以看出,TDI CCD光谱响应范围为:405~890nm。不确定度分析结果显示,TDI CCD相对光谱响应度曲线的最大不确定度约为4.15%,满足测量要求。
关键词Tdi Ccd探测器 光谱响应曲线 比较法 不确定度
语种中文
文献类型期刊论文
条目标识符http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/43340
专题中科院长春光机所知识产出
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GB/T 7714
张馥生. TDI CCD光谱响应曲线测量技术研究[J]. 电子测量技术,2014(5):93-95+111.
APA 张馥生.(2014).TDI CCD光谱响应曲线测量技术研究.电子测量技术(5),93-95+111.
MLA 张馥生."TDI CCD光谱响应曲线测量技术研究".电子测量技术 .5(2014):93-95+111.
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