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基于双Schwarzschild结构的平面光栅光谱仪
张晶; 薛庆生; 曹佃生
2014-09-15
发表期刊光学精密工程
期号9页码:2321-2328
摘要为了满足高分辨率大相对孔径宽波段高光谱成像仪的要求,提出并设计了一种基于双Schwarzschild结构的平面光栅光谱仪。基于几何像差理论,推导出了像散校正条件,利用Matlab软件编制了初始结构参数快速计算程序。作为实例,设计了一个相对孔径为1/2.5,波段为350~1 000nm的平面光栅光谱仪光学系统。利用自己编制的Matlab程序计算了初始结构参数,然后利用光学设计软件ZEMAX-EE对该光谱仪的光学系统进行了光线追迹和优化设计,并对设计结果进行分析。结果表明,在整个工作波段(350~1 000nm)内,点列图半径均方根值小于8.2μm,实现了大相对孔径宽波段像散同时校正,在宽波段内同时获得了良好的成像质量,满足了设计指标要求。所提出的基于双Schwarzschild结构的平面光栅光谱仪在高光谱遥感领域很有应用前景。
关键词光学设计 平面光栅光谱仪 Schwarzschild结构 高光谱成像仪
语种中文
文献类型期刊论文
条目标识符http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/43041
专题中科院长春光机所知识产出
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GB/T 7714
张晶,薛庆生,曹佃生. 基于双Schwarzschild结构的平面光栅光谱仪[J]. 光学精密工程,2014(9):2321-2328.
APA 张晶,薛庆生,&曹佃生.(2014).基于双Schwarzschild结构的平面光栅光谱仪.光学精密工程(9),2321-2328.
MLA 张晶,et al."基于双Schwarzschild结构的平面光栅光谱仪".光学精密工程 .9(2014):2321-2328.
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