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光子计数探测器感应位敏阳极的电子云扩散
韩素立; 陈波; 尼启良; 张宏吉
2014-07-15
发表期刊光学精密工程
期号7页码:1732-1736
摘要针对基于感应位敏阳极的光子计数成像探测器中非晶态Ge(α-Ge)膜的方块电阻对探测器成像性能的影响,研究了方块电阻的选配范围和方法。由于方块电阻的大小会影响Ge膜上的电子云的扩散特性从而影响探测器的计数率和分辨率,故本文根据菲克(Fick)扩散定律分析了吸收边界条件下非晶态薄膜上电子云的扩散特性。确定了电子云扩散时间与Ge膜方块电阻之间的数学关系,推导获得了探测器高质量成像时非晶态Ge膜方块电阻的阻值为30~2 700MΩ/□。采用具有不同方块电阻的感应位敏阳极进行了实际成像实验,结果表明:当Ge膜方块电阻在上述范围时,光子计数探测器在计数率为53kc/s时分辨率可以达到0.5mm。实验结果证明了推导得出的方块电阻选配范围的正确性。
关键词极紫外成像 光子计数探测器 感应位敏阳极 Ge膜电阻 电子云扩散
语种中文
文献类型期刊论文
条目标识符http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/42918
专题中科院长春光机所知识产出
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GB/T 7714
韩素立,陈波,尼启良,等. 光子计数探测器感应位敏阳极的电子云扩散[J]. 光学精密工程,2014(7):1732-1736.
APA 韩素立,陈波,尼启良,&张宏吉.(2014).光子计数探测器感应位敏阳极的电子云扩散.光学精密工程(7),1732-1736.
MLA 韩素立,et al."光子计数探测器感应位敏阳极的电子云扩散".光学精密工程 .7(2014):1732-1736.
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