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CCD成像系统模拟式自校图形实现装置
王文华、张宇、李国宁、韩双丽
2014-10-15
专利权人中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
公开日期2014-10-15
授权国家中国
专利类型发明
摘要CCD成像系统模拟式自校图形实现装置,涉及航天遥感成像技术领域,解决现有自校图形实现装置只能检测从FPGA到图像数据输出接口的功能链路,而无法检测关键的视频AD芯片等功能链路的问题,本发明用于遥感相机的电路状态自检,本发明将CCD视频信号与模拟自校信号在FPGA模块控制下适时进入视频AD模块输入端,实现对CCD成像系统的自我检测。本发明能使模拟自校图形与CCD视频信号互不干扰,并可与之分时送入视频AD模块,达到检测整个CCD成像系统工作状态的目的。该电路可检测多个视频AD模块,简单易行控制简便,所选芯片具有很高的温度可靠性和抗辐射性能,能够适应航天遥感成像系统的需要。
专利号201210137049.2
语种中文
专利状态公开
申请号201210137049.2
PCT属性
专利代理人陶尊新
文献类型专利
条目标识符http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/42094
专题中科院长春光机所知识产出
推荐引用方式
GB/T 7714
王文华、张宇、李国宁、韩双丽. CCD成像系统模拟式自校图形实现装置. 201210137049.2[P]. 2014-10-15.
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