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中阶梯光栅光谱仪、原子发射光谱仪及光谱测试方法
陈少杰 宁春丽 崔继承 巴音贺希格 齐向东 唐玉国
2014-08-20
专利权人中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
公开日期2014-08-20
授权国家中国
专利类型发明
摘要本发明涉及一种中阶梯光栅光谱仪、基于中阶梯光栅光谱仪的原子发射光谱仪、及原子发射光谱仪进行光谱测试的方法。本发明采用中阶梯光栅作为主色散元件;光源发出的光线经聚光镜聚焦在入射针孔,入射针孔出射光束经准直镜准直后入射到中阶梯光栅进行主色散,然后入射到交叉色散棱镜进行横向色散,交叉色散后经聚焦镜成像在CCD的像面上;通过改变交叉色散棱镜的入射角度,实现了200nm-900nm波段范围内的快速测量,具有宽波段、高分辨率、高灵敏度、低噪声、小体积的优点。实验结果表明本发明测试简便、灵敏度高、试样消耗量少、可实现宽波段多元素的快速测量。
专利号201210310554.2
语种中文
专利状态公开
申请号201210310554.2
PCT属性
专利代理人王淑秋
文献类型专利
条目标识符http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/42088
专题中科院长春光机所知识产出
推荐引用方式
GB/T 7714
陈少杰 宁春丽 崔继承 巴音贺希格 齐向东 唐玉国. 中阶梯光栅光谱仪、原子发射光谱仪及光谱测试方法. 201210310554.2[P]. 2014-08-20.
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