Changchun Institute of Optics,Fine Mechanics and Physics,CAS
| 绝对位置测量装置 | |
| 吴宏圣 孙强 张吉鹏 续志军 李贺军 | |
| 2014-06-18 | |
| 专利权人 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
| 公开日期 | 2014-06-18 |
| 授权国家 | 中国 |
| 专利类型 | 发明 |
| 摘要 | 本发明涉及一种绝对位置测量装置，该装置的光源发出的平行光将编码单元的位置编码信号投影在光探测器上；光探测器的线阵A和线阵B同时扫描编码单元的同一组位置编码信号；线阵A获得的A路位置编码信号由信号处理单元的A路信号采集模块采集，再由A路位置译码模块进行位置译码并判断译码结果是否正确；线阵B获得的B路位置编码信号由信号处理单元的B路信号采集模块采集，再由B路位置译码模块进行位置译码并判断译码结果是否正确；位置码校验模块对A路和B路译码结果进行校验，如果二者都正确或者只有A路正确，取A路译码结果为最终位置数据；只有B路正确，取B路译码结果为最终位置数据。本发明位置测量可靠性高。 |
| 专利号 | 201210088517.1 |
| 语种 | 中文 |
| 专利状态 | 公开 |
| 申请号 | 201210088517.1 |
| PCT属性 | 是 |
| 专利代理人 | 王淑秋 |
| 文献类型 | 专利 |
| 条目标识符 | http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/42056 |
| 专题 | 中科院长春光机所知识产出 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 吴宏圣 孙强 张吉鹏 续志军 李贺军. 绝对位置测量装置. 201210088517.1[P]. 2014-06-18. |
| 条目包含的文件 | 下载所有文件 | |||||
| 文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
| CN201210088517-绝对位置测（459KB） | 开放获取 | CC BY-NC-ND | 浏览 下载 | |||
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