Changchun Institute of Optics,Fine Mechanics and Physics,CAS
| 绝对位置测量装置1 | |
乔栋; 吴宏圣; 曾琪峰; 李也凡; 孙强
| |
| 2014-06-11 | |
| 专利权人 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
| 公开日期 | 2014-06-11 |
| 授权国家 | 中国 |
| 专利类型 | 发明 |
| 摘要 | 绝对位置测量装置，属于光电测量技术领域，为了解决现有绝对式测量中存在的抗污染能力差，对光学系统要求高的技术问题，本发明装置包括：保护介质、绝对位置条纹、发光器、凸透镜、光电传感器和位置读出模块，所述绝对位置条纹设置在保护介质内部，所述绝对位置条纹所在的平面与凸透镜主光轴垂直，所述光电传感器所在平面与凸透镜主光轴垂直；所述发光器发出的光线透过保护介质入射到绝对位置条纹上，光线经过绝对位置条纹反射，反射光通过凸透镜在光电传感器上成像，位置读出模块与光电传感器连接。本发明绝对位置测量装置在数控机床加工行业具有广阔的应用空间。 |
| 专利号 | 201210090799.9 |
| 语种 | 中文 |
| 专利状态 | 公开 |
| 申请号 | 201210090799.9 |
| PCT属性 | 是 |
| 专利代理人 | 南小平 |
| 文献类型 | 专利 |
| 条目标识符 | http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/42045 |
| 专题 | 中科院长春光机所知识产出 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 乔栋,吴宏圣,曾琪峰,等. 绝对位置测量装置1. 201210090799.9[P]. 2014-06-11. |
| 条目包含的文件 | 下载所有文件 | |||||
| 文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
| CN201210090799-绝对位置测（368KB） | 开放获取 | CC BY-NC-ND | 浏览 下载 | |||
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