Changchun Institute of Optics,Fine Mechanics and Physics,CAS
基于面阵探测器的多通道光谱仪杂散光光谱仪 | |
郝鹏![]() ![]() | |
专利权人 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
公开日期 | 2014-03-12 |
授权国家 | 中国 |
专利类型 | 发明 |
摘要 | 基于面阵探测器的多通道低杂散光光谱仪属于光谱分析仪器领域,该光谱仪包括光学平台和光信号采集处理装置两部分,其特征在于,光学平台采用多通道面阵探测器,在其中某一通道的窗口上,通过图形化镀膜的方法,加工形成沿光谱分布方向分布的若干个带阻滤光片,进行实时测量探测器各个区域所接收到的杂散光变化情况,利用此通道作为参考通道,实现对整个光谱分析仪杂散光的实时有效校正。本发明有效的校正了光谱分析系统全波段范围内的测量杂散光,可应用于待测样品光谱特征、吸光度值等各光色参数的测量方面。 |
专利状态 | 公开 |
申请号 | 201110028388.2 |
文献类型 | 专利 |
条目标识符 | http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/39171 |
专题 | 中科院长春光机所知识产出 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 郝鹏,吴一辉,黎海文. 基于面阵探测器的多通道光谱仪杂散光光谱仪. |
条目包含的文件 | ||||||
文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
201110028388.pdf(393KB) | 开放获取 | CC BY-NC-ND | 浏览 请求全文 |
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