Changchun Institute of Optics,Fine Mechanics and Physics,CAS
| CCD器件相对光谱响应测试仪 | |
闫丰 ; 周跃; 章明朝; 陈雪
| |
| 2013-10-15 | |
| 发表期刊 | 光谱学与光谱分析 (IF:0.452[JCR-2019],0.401[5-Year]) |
| 期号 | 10页码:2865-2868 |
| 摘要 | 设计并实现了一种涵盖400～950nm的全自动CCD器件相对光谱响应测试仪。分析了成像器件的相对光谱响应测试原理,采用宽光谱、高灵敏度响应的科学级光纤光谱仪QE65000作为参考探测器,基于单光路直接比较法,构建了CCD器件相对光谱响应测试仪器。该装置可全自动完成CCD器件的相对光谱响应测量,不确定度分析结果表明,该装置对CCD器件开展相对光谱响应测试的最大不确定度为6.21%,满足应用需求,可为CCD等图像传感器甄选、参数性能评价及后续整机测试提供关键数据支撑。 |
| 关键词 | Ccd 相对光谱响应 全自动测试 不确定度 |
| 收录类别 | CNKI |
| 语种 | 中文 |
| 文献类型 | 期刊论文 |
| 条目标识符 | http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/38911 |
| 专题 | 中科院长春光机所知识产出 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 闫丰,周跃,章明朝,等. CCD器件相对光谱响应测试仪[J]. 光谱学与光谱分析,2013(10):2865-2868. |
| APA | 闫丰,周跃,章明朝,&陈雪.(2013).CCD器件相对光谱响应测试仪.光谱学与光谱分析(10),2865-2868. |
| MLA | 闫丰,et al."CCD器件相对光谱响应测试仪".光谱学与光谱分析 .10(2013):2865-2868. |
| 条目包含的文件 | ||||||
| 文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
| CCD器件相对光谱响应测试仪.caj（211KB） | 开放获取 | CC BY-NC-ND | 浏览 请求全文 | |||
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