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850nm锥形半导体激光器的温度特性
黄海华; 刘云; 杨晔; 秦莉; 宁永强; 王立军
2013-04-15
发表期刊中国光学
期号02页码:201-207
摘要采用激射波长为850 nm的AlGaInAs/AlGaAs梯度折射率波导分别限制增益量子阱结构的外延片,分别制备了具有锥形结构和条形结构的半导体激光器,并对比分析了两者的温度特性。结果显示,测试温度为20~70℃时,锥形结构器件的特征温度为164 K,远高于条形结构器件的96 K;占空比为0.5%(t=50μs,f=100 Hz),1 000 mA脉冲电流注入条件下,锥形激光器和条形激光器的波长漂移系数分别为0.25和0.28 nm/K;测试温度<50℃时,锥形激光器和条形激光器的光谱半高宽分别约为1.12和1.24 nm。实验结果表明:相同外延层结构条件下,锥形激光器比条形激光器拥有更高的特征温度。
关键词锥形半导体激光器 温度特性 特征温度
收录类别CNKI
语种中文
文献类型期刊论文
条目标识符http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/38908
专题中科院长春光机所知识产出
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GB/T 7714
黄海华,刘云,杨晔,等. 850nm锥形半导体激光器的温度特性[J]. 中国光学,2013(02):201-207.
APA 黄海华,刘云,杨晔,秦莉,宁永强,&王立军.(2013).850nm锥形半导体激光器的温度特性.中国光学(02),201-207.
MLA 黄海华,et al."850nm锥形半导体激光器的温度特性".中国光学 .02(2013):201-207.
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