CIOMP OpenIR  > 中科院长春光机所知识产出
基于非完整表面缺陷模式的一维光子晶体高分辨率折射率传感器
吴一辉; 宣明; 郝鹏
2011-02-20
发表期刊光谱学与光谱分析
ISSN1000-0593
卷号31期号:2页码:565-569
收录类别EI+SCI
文献类型期刊论文
条目标识符http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/3688
专题中科院长春光机所知识产出
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GB/T 7714
吴一辉,宣明,郝鹏. 基于非完整表面缺陷模式的一维光子晶体高分辨率折射率传感器[J]. 光谱学与光谱分析,2011,31(2):565-569.
APA 吴一辉,宣明,&郝鹏.(2011).基于非完整表面缺陷模式的一维光子晶体高分辨率折射率传感器.光谱学与光谱分析,31(2),565-569.
MLA 吴一辉,et al."基于非完整表面缺陷模式的一维光子晶体高分辨率折射率传感器".光谱学与光谱分析 31.2(2011):565-569.
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