Changchun Institute of Optics,Fine Mechanics and Physics,CAS
| 基于非完整表面缺陷模式的一维光子晶体高分辨率折射率传感器 | |
吴一辉 ; 宣明; 郝鹏
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| 2011-02-20 | |
| 发表期刊 | 光谱学与光谱分析
 |
| ISSN | 1000-0593 |
| 卷号 | 31期号:2页码:565-569 |
| 收录类别 | EI+SCI |
| 文献类型 | 期刊论文 |
| 条目标识符 | http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/3688 |
| 专题 | 中科院长春光机所知识产出 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 吴一辉,宣明,郝鹏. 基于非完整表面缺陷模式的一维光子晶体高分辨率折射率传感器[J]. 光谱学与光谱分析,2011,31(2):565-569. |
| APA | 吴一辉,宣明,&郝鹏.(2011).基于非完整表面缺陷模式的一维光子晶体高分辨率折射率传感器.光谱学与光谱分析,31(2),565-569. |
| MLA | 吴一辉,et al."基于非完整表面缺陷模式的一维光子晶体高分辨率折射率传感器".光谱学与光谱分析 31.2(2011):565-569. |
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