Changchun Institute of Optics,Fine Mechanics and Physics,CAS
成像光谱仪辐射测量一致性校正中插值方法选择 | |
向阳 | |
2011-04-20 | |
发表期刊 | 光谱学与光谱分析 |
ISSN | 1000-0593 |
卷号 | 31期号:4页码:1147-1150 |
收录类别 | EI+SCI |
文献类型 | 期刊论文 |
条目标识符 | http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/3635 |
专题 | 中科院长春光机所知识产出 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 向阳. 成像光谱仪辐射测量一致性校正中插值方法选择[J]. 光谱学与光谱分析,2011,31(4):1147-1150. |
APA | 向阳.(2011).成像光谱仪辐射测量一致性校正中插值方法选择.光谱学与光谱分析,31(4),1147-1150. |
MLA | 向阳."成像光谱仪辐射测量一致性校正中插值方法选择".光谱学与光谱分析 31.4(2011):1147-1150. |
条目包含的文件 | 下载所有文件 | |||||
文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
成像光谱仪辐射测量一致性校正中插值方法选(1289KB) | 开放获取 | -- | 浏览 下载 |
个性服务 |
推荐该条目 |
保存到收藏夹 |
查看访问统计 |
导出为Endnote文件 |
谷歌学术 |
谷歌学术中相似的文章 |
[向阳]的文章 |
百度学术 |
百度学术中相似的文章 |
[向阳]的文章 |
必应学术 |
必应学术中相似的文章 |
[向阳]的文章 |
相关权益政策 |
暂无数据 |
收藏/分享 |
除非特别说明,本系统中所有内容都受版权保护,并保留所有权利。
修改评论