Changchun Institute of Optics,Fine Mechanics and Physics,CAS
| 准直检测的改进──半孔径双向剪切干涉法 | |
| 杨志文; 金锡哲 | |
| 1996-08-30 | |
| 发表期刊 | 光电子·激光
 |
| 期号 | 04页码:220-223+214 |
| 关键词 | Shearing Interferometry Collimation Testing Sensitivity |
| 文献类型 | 期刊论文 |
| 条目标识符 | http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/32526 |
| 专题 | 中科院长春光机所知识产出 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 杨志文,金锡哲. 准直检测的改进──半孔径双向剪切干涉法[J]. 光电子·激光,1996(04):220-223+214. |
| APA | 杨志文,&金锡哲.(1996).准直检测的改进──半孔径双向剪切干涉法.光电子·激光(04),220-223+214. |
| MLA | 杨志文,et al."准直检测的改进──半孔径双向剪切干涉法".光电子·激光 .04(1996):220-223+214. |
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| 准直检测的改进_半孔径双向剪切干涉法.c（160KB） | 开放获取 | -- | 浏览 下载 | |||
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