CIOMP OpenIR  > 中科院长春光机所知识产出
用透射光栅谱仪测量多层膜的反射特性
王占山
1999-08-30
发表期刊光学精密工程
期号04页码:22-27
关键词软x射线 多层膜 反射率 透射光栅光谱仪
文献类型期刊论文
条目标识符http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/32314
专题中科院长春光机所知识产出
推荐引用方式
GB/T 7714
王占山. 用透射光栅谱仪测量多层膜的反射特性[J]. 光学精密工程,1999(04):22-27.
APA 王占山.(1999).用透射光栅谱仪测量多层膜的反射特性.光学精密工程(04),22-27.
MLA 王占山."用透射光栅谱仪测量多层膜的反射特性".光学精密工程 .04(1999):22-27.
条目包含的文件 下载所有文件
文件名称/大小 文献类型 版本类型 开放类型 使用许可
用透射光栅谱仪测量多层膜的反射特性.ca(32KB) 开放获取--浏览 下载
个性服务
推荐该条目
保存到收藏夹
查看访问统计
导出为Endnote文件
谷歌学术
谷歌学术中相似的文章
[王占山]的文章
百度学术
百度学术中相似的文章
[王占山]的文章
必应学术
必应学术中相似的文章
[王占山]的文章
相关权益政策
暂无数据
收藏/分享
文件名: 用透射光栅谱仪测量多层膜的反射特性.caj
格式: caj
此文件暂不支持浏览
所有评论 (0)
暂无评论
 

除非特别说明,本系统中所有内容都受版权保护,并保留所有权利。