CIOMP OpenIR  > 中科院长春光机所知识产出
应用等色序条纹测量超精抛光光学表面粗糙度的研究
周长新
1986-10-01
发表期刊计量学报
期号03页码:187-193
关键词表面粗糙度:7845 光学表面:3096 干涉条纹:2825 精抛光:2457 色序:1993 棱镜单色仪:1948 干涉级数:1714 分布函数:1398 反射率:1043 熔石英:1042
文献类型期刊论文
条目标识符http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/31974
专题中科院长春光机所知识产出
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GB/T 7714
周长新. 应用等色序条纹测量超精抛光光学表面粗糙度的研究[J]. 计量学报,1986(03):187-193.
APA 周长新.(1986).应用等色序条纹测量超精抛光光学表面粗糙度的研究.计量学报(03),187-193.
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