Changchun Institute of Optics,Fine Mechanics and Physics,CAS
| CCD应用中数据取样技术的研究 | |
| 曾晓洋; 郝志航 | |
| 1999-08-30 | |
| 发表期刊 | 半导体光电
 |
| 期号 | 04页码:273-276 |
| 关键词 | Ccd 相关双取样 复位噪声 相关四取样 |
| 文献类型 | 期刊论文 |
| 条目标识符 | http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/31810 |
| 专题 | 中科院长春光机所知识产出 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 曾晓洋,郝志航. CCD应用中数据取样技术的研究[J]. 半导体光电,1999(04):273-276. |
| APA | 曾晓洋,&郝志航.(1999).CCD应用中数据取样技术的研究.半导体光电(04),273-276. |
| MLA | 曾晓洋,et al."CCD应用中数据取样技术的研究".半导体光电 .04(1999):273-276. |
| 条目包含的文件 | 下载所有文件 | |||||
| 文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
| CCD应用中数据取样技术的研究.caj（47KB） | 开放获取 | -- | 浏览 下载 | |||
| 个性服务 |
| 推荐该条目 |
| 保存到收藏夹 |
| 查看访问统计 |
| 导出为Endnote文件 |
| 谷歌学术 |
| 谷歌学术中相似的文章 |
| [曾晓洋]的文章 |
| [郝志航]的文章 |
| 百度学术 |
| 百度学术中相似的文章 |
| [曾晓洋]的文章 |
| [郝志航]的文章 |
| 必应学术 |
| 必应学术中相似的文章 |
| [曾晓洋]的文章 |
| [郝志航]的文章 |
| 相关权益政策 |
| 暂无数据 |
| 收藏/分享 |
除非特别说明，本系统中所有内容都受版权保护，并保留所有权利。
修改评论