CIOMP OpenIR  > 中科院长春光机所知识产出
接近式光刻刻划间隙的确定
付永启
1997-08-20
发表期刊仪器仪表学报
期号04页码:81-84+97
关键词刻划间隙:7286 接近式光刻:5937 刻线质量:2182 线密度:1418 光强度分布:1194 菲涅耳衍射:1113 掩模板:949 衍射效应:715 泰伯效应:634 定量分析:622
文献类型期刊论文
条目标识符http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/31680
专题中科院长春光机所知识产出
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GB/T 7714
付永启. 接近式光刻刻划间隙的确定[J]. 仪器仪表学报,1997(04):81-84+97.
APA 付永启.(1997).接近式光刻刻划间隙的确定.仪器仪表学报(04),81-84+97.
MLA 付永启."接近式光刻刻划间隙的确定".仪器仪表学报 .04(1997):81-84+97.
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