Changchun Institute of Optics,Fine Mechanics and Physics,CAS
采样频率、系统延迟对跟踪系统稳定性能的影响 | |
王连明; 葛文奇; 谢慕君 | |
2000-08-30 | |
发表期刊 | 光学精密工程 |
期号 | 04页码:369-372 |
关键词 | 采样频率 相位裕量 系统延迟 跟踪系统 |
文献类型 | 期刊论文 |
条目标识符 | http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/31653 |
专题 | 中科院长春光机所知识产出 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 王连明,葛文奇,谢慕君. 采样频率、系统延迟对跟踪系统稳定性能的影响[J]. 光学精密工程,2000(04):369-372. |
APA | 王连明,葛文奇,&谢慕君.(2000).采样频率、系统延迟对跟踪系统稳定性能的影响.光学精密工程(04),369-372. |
MLA | 王连明,et al."采样频率、系统延迟对跟踪系统稳定性能的影响".光学精密工程 .04(2000):369-372. |
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