Changchun Institute of Optics,Fine Mechanics and Physics,CAS
18.2nm Schwarzschild显微成像系统初步研究 | |
王占山; 曹健林; 陈波; 马月英; 陈斌; 张俊平; 王兆岗; 高宏刚; 吕俊霞; 陈星旦 | |
1996-04-05 | |
发表期刊 | 光学学报 |
期号 | 04页码:531-536 |
关键词 | 软x射线 多层膜 显微成像系统 |
文献类型 | 期刊论文 |
条目标识符 | http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/31201 |
专题 | 中科院长春光机所知识产出 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 王占山,曹健林,陈波,等. 18.2nm Schwarzschild显微成像系统初步研究[J]. 光学学报,1996(04):531-536. |
APA | 王占山.,曹健林.,陈波.,马月英.,陈斌.,...&陈星旦.(1996).18.2nm Schwarzschild显微成像系统初步研究.光学学报(04),531-536. |
MLA | 王占山,et al."18.2nm Schwarzschild显微成像系统初步研究".光学学报 .04(1996):531-536. |
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