Changchun Institute of Optics,Fine Mechanics and Physics,CAS
光学码盘的检验 | |
张红胜; 杨进堂 | |
1999-10-28 | |
发表期刊 | 计量技术 |
期号 | 10页码:25-27 |
关键词 | 光学码盘 刻划误差 均匀性误差 码道关系误差 |
文献类型 | 期刊论文 |
条目标识符 | http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/30694 |
专题 | 中科院长春光机所知识产出 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 张红胜,杨进堂. 光学码盘的检验[J]. 计量技术,1999(10):25-27. |
APA | 张红胜,&杨进堂.(1999).光学码盘的检验.计量技术(10),25-27. |
MLA | 张红胜,et al."光学码盘的检验".计量技术 .10(1999):25-27. |
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