CIOMP OpenIR  > 中科院长春光机所知识产出
一种测量光学元件高反射(透过)率的有效方法
陈亦; 邵中兴
1990-07-30
发表期刊光学学报
期号07页码:664-667
关键词测量 高反射(透过)率
文献类型期刊论文
条目标识符http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/30431
专题中科院长春光机所知识产出
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GB/T 7714
陈亦,邵中兴. 一种测量光学元件高反射(透过)率的有效方法[J]. 光学学报,1990(07):664-667.
APA 陈亦,&邵中兴.(1990).一种测量光学元件高反射(透过)率的有效方法.光学学报(07),664-667.
MLA 陈亦,et al."一种测量光学元件高反射(透过)率的有效方法".光学学报 .07(1990):664-667.
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