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高功率半导体量子阱激光器测试中的灾变性损伤
曹玉莲; 王乐; 潘玉寨; 廖新胜; 程东明; 刘云; 王立军
2002-10-30
发表期刊发光学报
期号05页码:477-480
关键词电浪涌 灾变性损伤 激光二极管
文献类型期刊论文
条目标识符http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/30207
专题中科院长春光机所知识产出
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GB/T 7714
曹玉莲,王乐,潘玉寨,等. 高功率半导体量子阱激光器测试中的灾变性损伤[J]. 发光学报,2002(05):477-480.
APA 曹玉莲.,王乐.,潘玉寨.,廖新胜.,程东明.,...&王立军.(2002).高功率半导体量子阱激光器测试中的灾变性损伤.发光学报(05),477-480.
MLA 曹玉莲,et al."高功率半导体量子阱激光器测试中的灾变性损伤".发光学报 .05(2002):477-480.
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