Changchun Institute of Optics,Fine Mechanics and Physics,CAS
| 用于成像侦察的CCD探测器成像分辨力的探讨 | |
| 陶家生 | |
| 2003-01-20 | |
| 发表期刊 | 光学技术
 |
| 期号 | 01页码:94-95+100 |
| 关键词 | Ccd成像 像质 分辨力 |
| 文献类型 | 期刊论文 |
| 条目标识符 | http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/30163 |
| 专题 | 中科院长春光机所知识产出 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 陶家生. 用于成像侦察的CCD探测器成像分辨力的探讨[J]. 光学技术,2003(01):94-95+100. |
| APA | 陶家生.(2003).用于成像侦察的CCD探测器成像分辨力的探讨.光学技术(01),94-95+100. |
| MLA | 陶家生."用于成像侦察的CCD探测器成像分辨力的探讨".光学技术 .01(2003):94-95+100. |
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| 文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
| 用于成像侦察的CCD探测器成像分辨力的探（79KB） | 开放获取 | -- | 浏览 下载 | |||
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