Changchun Institute of Optics,Fine Mechanics and Physics,CAS
| 基于相移电子莫尔条纹的深度非球面检测(英文) | |
程仕东; 张学军; 张忠玉 ; 张峰
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| 2003-06-25 | |
| 发表期刊 | 光学精密工程
 |
| 期号 | 03页码:250-255 |
| 关键词 | 条纹分析 莫尔条纹 补偿检验 |
| 文献类型 | 期刊论文 |
| 条目标识符 | http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/30113 |
| 专题 | 中科院长春光机所知识产出 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 程仕东,张学军,张忠玉,等. 基于相移电子莫尔条纹的深度非球面检测(英文)[J]. 光学精密工程,2003(03):250-255. |
| APA | 程仕东,张学军,张忠玉,&张峰.(2003).基于相移电子莫尔条纹的深度非球面检测(英文).光学精密工程(03),250-255. |
| MLA | 程仕东,et al."基于相移电子莫尔条纹的深度非球面检测(英文)".光学精密工程 .03(2003):250-255. |
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| 基于相移电子莫尔条纹的深度非球面检测_英（124KB） | 开放获取 | -- | 浏览 下载 | |||
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