Changchun Institute of Optics,Fine Mechanics and Physics,CAS
| 利用x射线激光干涉诊断等离子体电子密度 | |
王琛; 王伟 ; 孙今人; 方智恒; 吴江; 傅思祖; 马伟新; 顾援; 王世绩; 张国平; 郑无敌; 张覃鑫; 彭惠民; 邵平; 易葵; 林尊琪; 王占山; 王洪昌; 周斌; 陈玲燕; 金春水
| |
| 2005-01-12 | |
| 发表期刊 | 物理学报
 |
| 期号 | 01页码:202-205 |
| 关键词 | 等离子体电子密度诊断 X射线激光 马赫-曾德尔干涉仪 |
| 文献类型 | 期刊论文 |
| 条目标识符 | http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/29262 |
| 专题 | 中科院长春光机所知识产出 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 王琛,王伟,孙今人,等. 利用x射线激光干涉诊断等离子体电子密度[J]. 物理学报,2005(01):202-205. |
| APA | 王琛.,王伟.,孙今人.,方智恒.,吴江.,...&金春水.(2005).利用x射线激光干涉诊断等离子体电子密度.物理学报(01),202-205. |
| MLA | 王琛,et al."利用x射线激光干涉诊断等离子体电子密度".物理学报 .01(2005):202-205. |
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