CIOMP OpenIR  > 中科院长春光机所知识产出
利用x射线激光干涉诊断等离子体电子密度
王琛; 王伟; 孙今人; 方智恒; 吴江; 傅思祖; 马伟新; 顾援; 王世绩; 张国平; 郑无敌; 张覃鑫; 彭惠民; 邵平; 易葵; 林尊琪; 王占山; 王洪昌; 周斌; 陈玲燕; 金春水
2005-01-12
发表期刊物理学报
期号01页码:202-205
关键词等离子体电子密度诊断 X射线激光 马赫-曾德尔干涉仪
文献类型期刊论文
条目标识符http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/29262
专题中科院长春光机所知识产出
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GB/T 7714
王琛,王伟,孙今人,等. 利用x射线激光干涉诊断等离子体电子密度[J]. 物理学报,2005(01):202-205.
APA 王琛.,王伟.,孙今人.,方智恒.,吴江.,...&金春水.(2005).利用x射线激光干涉诊断等离子体电子密度.物理学报(01),202-205.
MLA 王琛,et al."利用x射线激光干涉诊断等离子体电子密度".物理学报 .01(2005):202-205.
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