CIOMP OpenIR  > 中科院长春光机所知识产出
CCD像面旋转引起的脱靶量误差及检测方法
龙华伟; 沈湘衡; 马军
2003-12-25
发表期刊光学精密工程
期号06页码:607-611
关键词脱靶量 误差修正 Ccd传感器 像面 检测方法
文献类型期刊论文
条目标识符http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/29227
专题中科院长春光机所知识产出
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GB/T 7714
龙华伟,沈湘衡,马军. CCD像面旋转引起的脱靶量误差及检测方法[J]. 光学精密工程,2003(06):607-611.
APA 龙华伟,沈湘衡,&马军.(2003).CCD像面旋转引起的脱靶量误差及检测方法.光学精密工程(06),607-611.
MLA 龙华伟,et al."CCD像面旋转引起的脱靶量误差及检测方法".光学精密工程 .06(2003):607-611.
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