Changchun Institute of Optics,Fine Mechanics and Physics,CAS
| 基于单片机的多功能电路测试平台 | |
| 吴平; 刘建; 郑喜凤; 丁铁夫 | |
| 2004-01-15 | |
| 发表期刊 | 电子工程师
 |
| 期号 | 01页码:17-19 |
| 关键词 | 单片机 At89c51 集成电路测试 |
| 文献类型 | 期刊论文 |
| 条目标识符 | http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/28800 |
| 专题 | 中科院长春光机所知识产出 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 吴平,刘建,郑喜凤,等. 基于单片机的多功能电路测试平台[J]. 电子工程师,2004(01):17-19. |
| APA | 吴平,刘建,郑喜凤,&丁铁夫.(2004).基于单片机的多功能电路测试平台.电子工程师(01),17-19. |
| MLA | 吴平,et al."基于单片机的多功能电路测试平台".电子工程师 .01(2004):17-19. |
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| 文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
| 基于单片机的多功能电路测试平台.caj（34KB） | 开放获取 | -- | 浏览 下载 | |||
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