Changchun Institute of Optics,Fine Mechanics and Physics,CAS
| 同步辐射掠出射X射线荧光分析薄膜膜厚 | |
巩岩 ; 陈波; 尼启良; 崔明启; 赵屹东; 吴忠华
| |
| 2005-11-21 | |
| 发表期刊 | 高能物理与核物理
 |
| 期号 | 11页码:82-84 |
| 关键词 | 同步辐射光源 掠出射 X射线荧光 薄膜 |
| 文献类型 | 期刊论文 |
| 条目标识符 | http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/28588 |
| 专题 | 中科院长春光机所知识产出 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 巩岩,陈波,尼启良,等. 同步辐射掠出射X射线荧光分析薄膜膜厚[J]. 高能物理与核物理,2005(11):82-84. |
| APA | 巩岩,陈波,尼启良,崔明启,赵屹东,&吴忠华.(2005).同步辐射掠出射X射线荧光分析薄膜膜厚.高能物理与核物理(11),82-84. |
| MLA | 巩岩,et al."同步辐射掠出射X射线荧光分析薄膜膜厚".高能物理与核物理 .11(2005):82-84. |
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