Changchun Institute of Optics,Fine Mechanics and Physics,CAS
| 用微区光学方法研究GaP:ZnO红光外延片 | |
高瑛; 骆永石 ; 高汉江; 刘和初; 曹炳初; 汤建新
| |
| 2001-03-03 | |
| 发表期刊 | 半导体技术
 |
| 期号 | 03页码:59-61 |
| 关键词 | 微区光学方法 检测 外延片 |
| 文献类型 | 期刊论文 |
| 条目标识符 | http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/28574 |
| 专题 | 中科院长春光机所知识产出 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 高瑛,骆永石,高汉江,等. 用微区光学方法研究GaP:ZnO红光外延片[J]. 半导体技术,2001(03):59-61. |
| APA | 高瑛,骆永石,高汉江,刘和初,曹炳初,&汤建新.(2001).用微区光学方法研究GaP:ZnO红光外延片.半导体技术(03),59-61. |
| MLA | 高瑛,et al."用微区光学方法研究GaP:ZnO红光外延片".半导体技术 .03(2001):59-61. |
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| 用微区光学方法研究GaP_ZnO红光外延（130KB） | 开放获取 | -- | 浏览 下载 | |||
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