Changchun Institute of Optics,Fine Mechanics and Physics,CAS
| 金薄膜UV透过特性对MCP电子增益测量影响的研究 | |
| 李野; 但唐仁; 高延军; 程轶; 姜得龙; 田景全 | |
| 2002-06-30 | |
| 发表期刊 | 红外技术
 |
| 期号 | 03页码:31-33+37 |
| 关键词 | 微通道板 电子增益 Uv光电法 Uv透过率 |
| 文献类型 | 期刊论文 |
| 条目标识符 | http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/28526 |
| 专题 | 中科院长春光机所知识产出 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 李野,但唐仁,高延军,等. 金薄膜UV透过特性对MCP电子增益测量影响的研究[J]. 红外技术,2002(03):31-33+37. |
| APA | 李野,但唐仁,高延军,程轶,姜得龙,&田景全.(2002).金薄膜UV透过特性对MCP电子增益测量影响的研究.红外技术(03),31-33+37. |
| MLA | 李野,et al."金薄膜UV透过特性对MCP电子增益测量影响的研究".红外技术 .03(2002):31-33+37. |
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| 金薄膜UV透过特性对MCP电子增益测量影（42KB） | 开放获取 | -- | 浏览 下载 | |||
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