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全息光栅制作中光栅掩模形状随曝光量及干涉场条纹对比度的变化规律
韩建; 巴音贺希格; 李文昊; 孔鹏
2012-03-10
发表期刊光学学报
期号03页码:9-15
关键词光栅 曝光量 条纹对比度 占宽比 槽深
文献类型期刊论文
条目标识符http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/27992
专题中科院长春光机所知识产出
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GB/T 7714
韩建,巴音贺希格,李文昊,等. 全息光栅制作中光栅掩模形状随曝光量及干涉场条纹对比度的变化规律[J]. 光学学报,2012(03):9-15.
APA 韩建,巴音贺希格,李文昊,&孔鹏.(2012).全息光栅制作中光栅掩模形状随曝光量及干涉场条纹对比度的变化规律.光学学报(03),9-15.
MLA 韩建,et al."全息光栅制作中光栅掩模形状随曝光量及干涉场条纹对比度的变化规律".光学学报 .03(2012):9-15.
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