Changchun Institute of Optics,Fine Mechanics and Physics,CAS
| 高光谱成像仪的高精度实验室辐射定标及校正方法 | |
马庆军
| |
| 2012-10-08 | |
| 发表期刊 | 硅谷
 |
| 期号 | 19页码:30-32 |
| 关键词 | 成像光谱仪 辐射定标 定标范围 暗电流 |
| 文献类型 | 期刊论文 |
| 条目标识符 | http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/27527 |
| 专题 | 中科院长春光机所知识产出 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 马庆军. 高光谱成像仪的高精度实验室辐射定标及校正方法[J]. 硅谷,2012(19):30-32. |
| APA | 马庆军.(2012).高光谱成像仪的高精度实验室辐射定标及校正方法.硅谷(19),30-32. |
| MLA | 马庆军."高光谱成像仪的高精度实验室辐射定标及校正方法".硅谷 .19(2012):30-32. |
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| 文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
| 高光谱成像仪的高精度实验室辐射定标及校正（979KB） | 开放获取 | -- | 浏览 下载 | |||
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