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Determination of InN/Diamond Heterojunction Band Offset by X-ray Photoelectron Spectroscopy
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Shi K.; Li D. B.; Song H. P.; Guo Y.; Wang J.; Xu X. Q.; Liu J. M.; Yang A. L.; Wei H. Y.; Zhang B.; Yang S. Y.; Liu X. L.; Zhu Q. S.; Wang Z. G.
2011
发表期刊Nanoscale Research Letters
ISSN1931-7573
卷号6
摘要Diamond is not only a free standing highly transparent window but also a promising carrier confinement layer for InN based devices, yet little is known of the band offsets in InN/diamond system. X-ray photoelectron spectroscopy was used to measure the energy discontinuity in the valence band offset (VBO) of InN/diamond heterostructure. The value of VBO was determined to be 0.39 +/- 0.08 eV and a type-I heterojunction with a conduction band offset (CBO) of 4.42 +/- 0.08 eV was obtained. The accurate determination of VBO and CBO is important for the application of III-N alloys based electronic devices.
收录类别SCI ; EI
语种英语
WOS记录号BMC:10.1007/s11671-010-9796-6
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文献类型期刊论文
条目标识符http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/26085
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GB/T 7714
Shi K.,Li D. B.,Song H. P.,et al. Determination of InN/Diamond Heterojunction Band Offset by X-ray Photoelectron Spectroscopy[J]. Nanoscale Research Letters,2011,6.
APA Shi K..,Li D. B..,Song H. P..,Guo Y..,Wang J..,...&Wang Z. G..(2011).Determination of InN/Diamond Heterojunction Band Offset by X-ray Photoelectron Spectroscopy.Nanoscale Research Letters,6.
MLA Shi K.,et al."Determination of InN/Diamond Heterojunction Band Offset by X-ray Photoelectron Spectroscopy".Nanoscale Research Letters 6(2011).
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