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A twinned PbTe film induced by the 7x7 reconstruction of Si(111)
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Chen H. Y.; Dong S. S.; Yang Y. K.; Li D. M.; Zhang J. H.; Wang X. J.; Kan S. H.; Zou G. T.
2004
发表期刊Journal of Crystal Growth
ISSN0022-0248
卷号273期号:1—2页码:156-160
摘要The PbTe films were grown on Si(1 1 1) substrate by hot wall epitaxy (HWE). X-ray diffraction (XRD) and scanning electron microscopy (SEM) were used to study the films. The results show that the PbTe films are twinned ones with preferred <1 0 0> orientation. The angles of normal direction of PbTe(1 0 0) facets which are perpendicular to the surface of Si substrate are 30degrees or 60degrees. The interface energy is calculated by CASTEP module of materials studio and the reason for this phenomenon is discussed. (C) 2004 Elsevier B.V. All rights reserved.
收录类别SCI
语种英语
文献类型期刊论文
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专题中科院长春光机所知识产出
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GB/T 7714
Chen H. Y.,Dong S. S.,Yang Y. K.,et al. A twinned PbTe film induced by the 7x7 reconstruction of Si(111)[J]. Journal of Crystal Growth,2004,273(1—2):156-160.
APA Chen H. Y..,Dong S. S..,Yang Y. K..,Li D. M..,Zhang J. H..,...&Zou G. T..(2004).A twinned PbTe film induced by the 7x7 reconstruction of Si(111).Journal of Crystal Growth,273(1—2),156-160.
MLA Chen H. Y.,et al."A twinned PbTe film induced by the 7x7 reconstruction of Si(111)".Journal of Crystal Growth 273.1—2(2004):156-160.
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